USB-IF徽标认证

USB Implementers Forum (USB-IF)是一个致力于发展Universal Serial Bus技术并推广其应用的非营利性组织,USB藉由提供标准并统一化的传输接口规格,让电脑与外围配备间的连接传输变得轻松容易,省去使用外接卡或交换器的不便。一般应用USB规格的信息产品包罗万象,诸如电脑、相机、打印机、键盘、鼠标、显示器、网络装置、手机及各种新式消费电子产品。

什么是USB-IF徽标认证

USB-IF 认证是由USB Implementers Forum (USB通用串行总线开发者论坛,简称USB-IF)设立的,USB-IF是一个致力于发展Universal Serial Bus技术并推广其应用的非营利性组织,其董事会成员(论坛发起者)为英特尔、微软、惠普、NEC、LSI、意法半导体等,USB藉由提供标准并统一化的传输接口规格,让电脑与外围配备间的连接传输变得轻松容易,省去使用外接卡或交换器的不便。一般应用USB规格的信息产品包罗万象,诸如电脑、相机、打印机、键盘、鼠标、显示器、网络装置、手机及各种新式消费电子产品。

USB-IF定义了USB的技术规格,包括产品设计的接口与结构,为了要让制造商的产品能符合规格并通过测试,USB-IF制定了Compliance Program来提供一套合理的评估范围标准,这项测试方法是专为硬件制造商所提供的USB规格一致性测试,通过测试的产品将可被加入Integrator‘s List(集成产品列表)名单中,并取得使用USB标志认证的权利。除了标准认证测试外,安信实验室更可进一步提供问题侦错与错误分析、互操作性验证与其他相关技术咨询顾问服务。

USB技术的开发已进展到USB 3.0的阶段,由于厂商对USB 3.0技术前仆后继的投入、市场也开始产生庞大的需求,这使得厂商间更加相互竞逐,以期能缩短开发时程、迅速将产品推出市面抢得先机。然而,技术的导入需要时间与人力来研究,而透过USB-IF平台互操作性实验室(Platform Interoperability Lab,PIL)测试也需时等候,成为目前厂商开发USB 3.0产品的一大困扰。所幸,USB-IF协会现已开放含安信实验室在内的授权测试实验室执行部分USB 3.0测试项目,包括USB 3.0 Electrical, USB30CV以及USB 3.0 Average Current等三项测试,让厂商得以先行完成部分测项,以有效加速USB 3.0通过认证的脚步。

我们提供的USB-IF认证服务

安信实验室通过合作得到USB-IF测试认证实验室正式授权,可提供标准USB、Hi-Speed USB与Superspeed USB的标准认证测试服务。我们投入丰富资源所建立的测试环境,提供顾客一个方便、高效率、低成本的选择方案,并确保其产品能够充分的被加以整合。多年的测试经验,使安信实验室成为USB Implementer‘s Forum的忠实合作伙伴,并被正式授权认可提供USB-IF的认证测试服务。

电气测试如眼图测试

我们将利用6GHz或以上的示波器和百佳泰开发的治具来量测包含眼图(eye diagram)、讯号速度(signal rate)、电压/电流(voltage/current)及时序(clock timing )等讯号质量。

兼容性测试

我们拥有包括随身碟、数字相机、卡片阅读机、媒体播放器、储存装置、系统及USB Hubs…等多样的USB相关产品,可提供各种组合的兼容性测试。

USB充电测试

Battery Charging测试确保客户产品在符合BC v1.1 或BC v1.2规格下, 能够提供或得到超过500mA的电流。

USB-IF研发标准测试或预测试报告*

我们拥有全套符合USB-IF徽标认证标准的测试设备和测试环境,能帮助厂商进行严格测试,因用户一般情况下不需要贴USB协会的徽标,测试费用只有认证费用的几分之一,成本非常低廉,是目前我国制造业厂商为了规避产品质量风险而采用的最佳措施。

USB-IF徽标认证测试*

我们是USB-IF授权的认证测试实验室,能协助快速取得USB-IF认证,费用相对较低,一般厂商先行进行标准测试,确保产品可以通过认证,但不做徽标认证,节省产品开发费用成本,等国外OEM订单需要时,才开始做徽标认证,我们此时退返标准测试的费用给厂商。

了解一下USB-IF徽标认证的流程

USB-IF徽标认证设备分类及测试范围?

设备类别
  • ・Peripheral (Device) 外围设备
  • ・Hub/ Compound Device 集线器或组合设备
  • ・Host / System 主机/系统
  • ・Embedded Host 嵌入式主机
  • ・USB On-The-Go USB OTG设备
  • ・Silicon Building Block 芯片类
USB-IF徽标认证测试

・Frameworks Test
・Inrush Current Test
・Electrical Test
・Power Consumption Test
・Back Voltage Test
・Link Layer Test
・Hub LVS Test ・Bypass Capacitance Test
・Signal Quality Test
・Gold Tree Test
・Battery Charging Test
・Target Peripheral Test (OTG / Embedded Host)
・Physical and Protocol Inspection
・ (OTG / Embedded Host)